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? 日本膜厚鍍層的測量勉強可以稱為長度量測的一種,但實際上它的工作原理和測量方法與一般的長度測量是不一樣的。 ? ?目前膜厚計測的要求有日漸增多的趨勢,這是由于涂膜已不再只是美化材料表 ? 面或防腐的功能而已,一些新的電器、電子 產品,都是利用涂膜的工件來擔任一些重大的工作,因此膜厚的計測非常值得我們重視。 ? ?膜厚計可分為破壞式及非破壞式兩種。依其針對的測量對象不同而有所區(qū)別。一般而言,膜厚測量有以下幾種場合: ? ?1.底材為磁性金屬,而涂膜為非磁性金屬:例如鋼板在加工工廠加工、割切、 焊接時,須噴涂一層底漆(Shop PAINTING)。而此層涂漆如果太厚,非但耗費 漆材,而且嚴重防礙割切,焊接等工作的進行,但如果噴涂太薄,又容易導致鋼 板生銹,以致影響施工品質。 ? 2.底材為非磁性金屬涂膜亦為非磁性金屬:例如照相用底片為塑料材料,而其感光膜亦為非金屬材料。(例如鹵化銀),測量膜厚主要是作為底片生產品質的控制,膜厚直接影響底片沖洗的時間及影像的清晰度。 ? ?3.底材為磁性金屬而涂膜亦為磁性金屬:例如電鍍即是,鍍膜膜厚通常與電鍍時間有關,而鍍膜是否均勻則依賴生產技術的改良,這時候便須有良好的膜厚計來加以檢驗了。 ? 4.底材為非磁性金屬而涂膜為磁性金屬:噴敷技術或電鍍時先將底材表面金屬化,或是蒸鍍 ,都可達成此一任務,產品的例子如全反射面鏡,抗反射玻璃等等。有時因品質要求嚴格,其膜厚精度甚至控制在數(shù) n m 左右。 ? 現(xiàn)介紹各種不同的膜厚計測儀器如下: ? ?
1.破壞式膜厚計:利用鉆石刀將底材連同膜厚截斷,然后將斷面置于光學顥微鏡檢查,其斷面斜度有30度斜角,60度斜角及45度斜角的分別，亦有采用90度切斷檢查者。 ?
2.光學橢圓儀:其原理是利用分光的技術,由于不同材料有不同折射率的特性 ,因此求得膜厚,其儀點為精度高,不論膜厚薄至數(shù) n m ,也可以量取,但是缺點是價格較貴。